X射线荧光光谱仪工作原理介绍 成分检测分析仪 元素含量测试仪
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。下是这两类仪器的原理图。
    用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，X射线荧光光谱仪有两种基本类型：波长色散型和能量色散型。下图是这两类仪器的原理图。
  X射线荧光光谱仪分析的一般步骤是：选择分析方法，样品制备，仪器参数选择与校准曲线的制作，试样分析。 
　　SuperQ是Axios系列X 射线荧光光谱分析仪的主操作软件，控制光谱仪的运行和定性定量分析数据的处理。SuperQ先汇编各测量参数，再依次检查光学电学条件、校正系数，zui后自动汇编建成定性或定量分析测量程序。 
　　Omnian以全程扫描为定性分析的基础，用13个合成的参考样品建立扫描程序获得的测量强度，以此作为定量分析的依据；适用于分析范围很宽的固体、粉末和液体试样的快速无标样近似定量（半定量）分析。

江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列仪器是测合金元素成分检测仪,专门研发测试合金成分分析.测试过程校准，保证测量精度，内置多条曲线，可满足多种元素的分析需要。 X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行成分分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

成分检测分析仪 元素含量测试仪

下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足各种测试方式的应用
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，实现更高的测试效率
元素分析范围从硫（S）到铀（U）
分析检出限可达ppm
分析含量一般为ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源
能量分辨率：160±5eV
样品腔尺寸：460×298×98mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
仪器重量：45kg
移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
信号检测电子电路
高低压电源
新型X光管
计算机及喷墨打印机

应用领域

黄铜成分分析，以及铜合金、锌合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析